錫薄膜センサによる太陽電池モジュール劣化の早期段階での予測

カテゴリ: 部門大会

論文No: 27P3-SSP-27

グループ名: 【E】第37回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム

発行日: 2020/10/19

タイトル(英語): Early-stage Prediction of Photovoltaic Module Degradation by Tin Film Sensor

著者名: 浅野 正太(東京農工大学), 森本 考紀(東京農工大学), 原 由希子(産業技術総合研究所), 城内 紗千子(新潟大学), 増田 淳(新潟大学), 梅田 倫弘(東京農工大学), 岩見 健太郎(東京農工大学)

要約(日本語): 錫薄膜センサを用いて信頼性加速試験中の太陽電池(PV)モジュールの出力低下を評価した.錫薄膜センサはPVの劣化要因である酢酸を相対反射率変化として検出することができる.錫薄膜センサを封入したモジュールに加速試験を実施した結果,相対反射率と出力変化に強い相関関係があり,錫薄膜センサがPV劣化の早期予測に役立つことが期待される.

要約(英語): In this study, photovaltaic module degradation during accelerated reliability test was evaluated by tin film sensor. Response times of both relative reflectance and maximum output power were measured, and their strong correlation was found and would be used as an early-stage indicator for degradation.

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