波長情報を可視化するCMOSイメージセンサの開発と実証

カテゴリ: 部門大会

論文No: 15A3-C-1

グループ名: 【E】第39回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム

発行日: 2022/11/07

タイトル(英語): Development and demonstration of a CMOS image sensor for imaging of wavelength information

著者名: 井出 智也(豊橋技術科学大学), 崔 容俊(豊橋技術科学大学), 仲野 翔(豊橋技術科学大学), 坂江 亜弥(豊橋技術科学大学), 松原 稜弥(豊橋技術科学大学), 木村 安行(豊橋技術科学大学), 飛沢 健(豊橋技術科学大学), 高橋 一浩(豊橋技術科学大学), 石井 仁(豊橋技術科学大学), 野田 俊彦(豊橋技術科学大学), 澤田 和明(豊橋技術科学大学)

著者名(英語): Ide Tomoya(Toyohashi University of Technology), Choi Yong-Joon(Toyohashi University of Technology), Nakano Kakeru(Toyohashi University of Technology), Sakae Tsugumi(Toyohashi University of Technology), Matsubara Ryoya(Toyohashi University of Technology), Kimura Yasuyuki(Toyohashi university of technology), Hizawa Takeshi(Toyohashi University of Technology), Takahashi Kazuhiro(Toyohashi University of Technology), Ishii Hiromu(Toyohashi University of Technology), Noda Toshihiko(Toyohashi University of Technology), Sawada Kazuaki(Toyohashi university of technology)

キーワード: 波長情報検出|波長センサ|アレイ化|CMOSイメージセンサ|フィルタフリー|Wavelength information detection|Wavelength sensor|arrayizing|CMOS image sensor|Filter free

要約(日本語): 本研究では,センサの裏と表側の電流をそれぞれ検出し,その比率から波長情報が取得可能なCMOSイメージセンサの実現を目指す.各電流を同時に検出するための読み出し方法および回路を検討し,本学のLSI工場にて製作した.製作したアレイセンサは単画素と同等の波長-比率特性を有することが確認できた.さらに画素および光強度が異なる場合でも比率への影響は極めて小さく,1nmの波長識別には問題ないことを実証した.

要約(英語): This study aims to realize a CMOS image sensor that can obtain wavelength information from the ratio of two different currents. The designed sensor was fabricated at the university's LSI factory. The sensor has wavelength characteristics equivalent to those of a single pixel. The sensor can identify the wavelength of 1 nm even when the pixel and light intensity are different.

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