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機械学習基板多重波長測定システム
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カテゴリ: 部門大会
論文No: 25P2-C-4
グループ名: 【E】第41回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム
発行日: 2024/11/18
タイトル(英語): Machine Learning-based Multi-Wavelength Measurement System
著者名: 權 益賢(豊橋技術科学大学), 崔 容俊(豊橋技術科学大学), 井出 智也(豊橋技術科学大学), 髙橋 一浩(豊橋技術科学大学), 野田 俊彦(豊橋技術科学大学), 澤田 和明(豊橋技術科学大学)
PDFファイルサイズ: 1,530 Kバイト
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