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フレキシブル基板マイクロニードル電極デバイスを用いた低損傷長期ニューロン計測

フレキシブル基板マイクロニードル電極デバイスを用いた低損傷長期ニューロン計測

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 25P2-D-3

グループ名: 【E】第41回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム

発行日: 2024/11/18

タイトル(英語): Low-invasive long-term neural recording using a flexible substrate microneedle-electrode

著者名: 山下 幸司(豊橋技術科学大学), 坂本 兼盛(豊橋技術科学大学), 鈴木 巧(テクノプロ R&D), 清水 快季(豊橋技術科学大学), 沼野 利佳(豊橋技術科学大学), 鯉田 孝和(豊橋技術科学大学), 河野 剛士(豊橋技術科学大学)

キーワード: 低侵襲|ニューロン計測|フレキシブル基板|マイクロニードル電極|長期埋め込み

要約(日本語): 本研究ではフレキシブルな基板上に形成した直径5 μm 以下のSiマイクロニードル電極デバイスによる低組織損傷ニューロン長期計測技術を提案する。提案したマイクロニードル電極デバイスの信号取得能力は,1ヵ月以上の長期埋め込み計測評価により確認を行い,最長で316日後においても安定したニューロン計測が可能であることを示した。また,組織損傷評価では,提案電極デバイスが従来電極と比較して組織損傷を低減することを示した。

PDFファイルサイズ: 920 Kバイト

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