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傾斜模様をラインスキャンカメラで撮影しサンプリングモアレ法で解析する三軸計測可能なフォースプレート

傾斜模様をラインスキャンカメラで撮影しサンプリングモアレ法で解析する三軸計測可能なフォースプレート

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カテゴリ: 部門大会

論文No: 25P4-PS-97

グループ名: 【E】第41回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム

発行日: 2024/11/18

タイトル(英語): 3-axis force plate using tilted pattern and line scan camera for Sampling Moire method

著者名: 中原 行健(慶應義塾大学), 野村 旺雅(慶應義塾大学), 高橋 英俊(慶應義塾大学)

キーワード: フォースプレート|サンプリングモアレ法|三軸力計測|ラインスキャンカメラ|変位センサ

要約(日本語): サンプリングモアレ法はデジタルカメラで撮影した等間隔模様の変位を精密に解析可能だが、動的な計測に用いるには、一般的に精度に関わる画素数と時間分解能に影響するフレームレートがトレードオフとなっている。本研究ではサンプリングモアレ法の新たな方法として、横方向に高画素で超高速なラインスキャンカメラ、傾斜した模様、プリズムを組み合わせることで三軸計測可能なフォースプレートを実現した。

PDFファイルサイズ: 1,360 Kバイト

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