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イオン伝導による歪センサ開発にむけた薄層マイカの物性評価

イオン伝導による歪センサ開発にむけた薄層マイカの物性評価

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カテゴリ:部門大会

論文No:10P4-PS-91

グループ名:【E】第42回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム

発行日:2025/11/3

タイトル(英語):Physical Properties of Thin-Layer Mica for Ion-Conductive Strain Sensor Applications

著者名:*佐久間 博(物質・材料研究機構), 長田 貴弘(物質・材料研究機構), 三宅 亮(京都大学), 小野寺 桃子(東京大学), 町田 友樹(東京大学), 年吉 洋(東京大学)

著者名(英語):

キーワード:2.5次元物質,イオン伝導度,欠陥,リプロケーション,分子動力学,2.5 dimensional materials,ionic conductivity,dislocation,ripplocation,molecular dynamics

要約(日本語):層状物質に層間すべりや歪みといった変形を加えると特異な物性変化を示すことがあり、高感度歪みセンサ等への応用が期待される。本研究では、マイカにリプロケーションと呼ばれる層状物質に特有の欠陥を生じる変形を与えた際のイオン伝導度の変化を分子動力学シミュレーションで予測した。また実験的なマイカの剥離・リプロケーションの導入法の検討及び評価を行った。

要約(英語):We examined ripplocation-induced deformation in layered mica and its impact on ionic conductivity using molecular dynamics simulations and experiments. The results reveal deformation-dependent transport properties, suggesting ripplocation as a tunable structural feature to modulate ionic transport in layered materials, with implications for high-sensitivity strain sensor applications.

PDFファイルサイズ:468Kバイト

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