線形破壊力学に基づくき裂伝播経路解析の実証実験
線形破壊力学に基づくき裂伝播経路解析の実証実験
カテゴリ:部門大会
論文No:11A3-PS-68
グループ名:【E】第42回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム
発行日:2025/11/3
タイトル(英語):Demonstration Experiment of Crack Propagation Path Analysis Based on Liner Elastic Fracture Mechanics
著者名:*今市 智大(立命館大学), 河合 将史(立命館大学), 鳥山 寿之 (立命館大学)
著者名(英語):
キーワード:移動き裂,き裂先端応力場,単結晶Si,MEMS構造,破壊力学実験,moving crack,crack tip stress field,single crystal silicon,MEMS structures,fracture mechanics testing
要約(日本語):本研究では、単結晶Siの孤立移動転位弾性応力場に基づくモードI 動的き裂先端特異応力場の理論についての実証実験を行う。製作したSi片側き裂試験片に引張荷重を加え、き裂進展の分岐を観察した。実験結果として初期き裂は理論の予測通り、き裂延長方向から52°の方向へ進展したため、理論に妥当性があることを明らかにした。
要約(英語):We experimentally verified a theory for the Mode I dynamic crack-tip singular stress field, based on the elastic field of a moving dislocation in single-crystal Si. A tensile load was applied to a single-edge-cracked specimen. The crack propagated at 52°, matching the angle predicted, thus demonstrating the theory's validity.
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