集積回路動作の「その場」観察向け多端子MOSFETプロービング回路の研究

カテゴリ：部門大会

論文No：11P4-PS-27

グループ名：【E】第42回「センサ・マイクロマシンと応用システム」シンポジウム

発行日：2025/11/3

タイトル(英語)：A Study on Multi-Output MOSFET Probing Circuits for In-situ Observation of Integrated Circuit Operation

著者名：*伊藤 孝充（山形大学）, 原田 知親（山形大学）

著者名(英語)：

キーワード：多端子MOSFET,充放電電流,電流検出,スイッチドキャパシタ回路,CMOS,Multi-output MOSFET,Charge/Discharge current,Current detection,switched capacitor circuit,CMOS

要約(日本語)：本研究では、これまでの問題点から計測スピードを向上させるべく、多端子MOSFETとその出力信号を処理する回路を同一集積回路内で設計し、オンチッププローブ回路として再設計し、評価を行った。 回路動作の評価のために、0.18µm CMOSプロセスを用いて設計し、HSPICEを用いて回路解析を行った。

要約(英語)：This paper explores a method for indirectly measuring current through a multi-output MOSFET. Our results show that current can be indirectly measured within an integrated circuit while the multi-output MOSFET handles circuit operation.

PDFファイルサイズ：1,146Kバイト