テラヘルツ波ケミカル顕微鏡による化学反応分布検出システムの開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: CHS12008

グループ名: 【E】センサ・マイクロマシン部門 ケミカルセンサ研究会

発行日: 2012/06/11

タイトル(英語): Mapping system of Chemical Reactions using Terahertz Chemical Microscope

著者名: 紀和 利彦(岡山大学),高橋 真治(岡山大学),堺 健司(岡山大学),塚田 啓二(岡山大学)

著者名(英語): Kiwa Toshihiko(Okayama Univ.),Takahashi Shinji(Okayama Univ.),Sakai Kenji(Okayama Univ.),Tsukada Keiji(Okayama Univ.)

キーワード: テラヘルツ|ケミカルポテンシャル|フェムト秒レーザー|Terahertz|Chemical Potential|Fmeotosecond Laser

要約(日本語): Siチップ上の化学ポテンシャルの変化の空間分布をテラヘルツ(THz)強度分布として検出することが可能なTHzケミカル顕微鏡(TCM)の開発を提案してきた．チップにレーザーを照射すると，キャリアが励起され，Si中の電界で空乏層加速，THz波を放射する．チップ表面の化学ポテンシャルが変化すると，空乏層電界が変化するため，THz強度が変化する．本講演では，チップ上の様々な化学反応分布の可視化について報告する．

要約(英語): Terahertz Chemical Microscope has been developed which can visualize the chemical potential distribution on the Si based chip. When the laser was introduced into the chip, the carrier was excited and accelerated by the electric field of depletion layer, which result in the emission of the THz. Here, we report the visualization of chemical reactions on the chip.

原稿種別: 日本語

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