電流テスト容易化による動的電源電流を用いた故障検出手法

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC2-1

グループ名: 【C】平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2003/08/29

タイトル(英語): A fault detection method with using dynamic power supply current and current testable design.

著者名: 横山 洋之(秋田大学),玉本 英夫(秋田大学)

著者名(英語): Hiroshi Yokoyama(Akita University),Hideo Tamamoto(Akita University)

キーワード: テスト|故障検出|LSI|電流テスト|IDDQテスト|testing|fault detection|LSI|current testing|IDDQ test

要約(日本語): 半導体集積回路の設計・製造技術が発展し,大規模で高機能な回路を1つのチップ上に集積することが可能になった。しかし,配線や回路素子の微細化に伴い,従来の縮退故障モデルでは網羅できない故障が問題となってきている。従来,IDDQテストがこのような故障をスクリーニングする有効な手法であったが,回路素子のしきい値電圧の低下などによりIDDQの観測が難しくなってきている。本研究では,回路の動的電源電流の観測から故障を検出する手法を提案する。動的電源電流に故障の影響が現れるようなテスト容易化設計を施すことで,故障が有効に検出されることをシミュレーションから示す。

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