順序回路のテスト系列中のドントケア値発見法

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC2-3

グループ名: 【C】平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2003/08/29

タイトル(英語): Finding Don't Care Values in Test Sequences for Sequential Circuits

著者名: 樋上喜信 (愛媛大学),梶原誠司 (九州工業大学),Pomeranz Irith (Purdue University),小林真也 (愛媛大学),高松雄三 (愛媛大学)

キーワード: テスト生成|順序回路|縮退故障|ドントケア値|test generation|sequential circuit|stuck-at fault|don't care value

要約(日本語): 一般にVLSIに対するテスト系列中には,0でも1でも得られる故障検出率が変わらないようなドントケアとなる得る外部入力値が存在する.しかしながら自動テスト生成ツールで生成されたテスト系列では,全ての値が0または1に割り当てられている場合が多い.そこで本研究では,与えられた順序回路に対するテスト系列中において,元の故障検出率を変化させることなくドントケアとなる値を発見する手法を提案する.提案法では,テスト系列中の値をドントケアに変えて,故障シミュレーションを行い,故障検出率が低下しないかどうかを調べる.その際,部分テスト系列毎に処理を行ったり,一部の検出困難な故障のみを対象に処理を行うことで,計算時間の増大を防ぐ.

PDFファイルサイズ: 4,050 Kバイト