多重スキャン方式におけるテストデータ圧縮手法

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC2-6

グループ名: 【C】平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2003/08/29

タイトル(英語): A Test Data Compression Method for Circuits with multiple scan structure

著者名: 吉岡春奈 (三重大学),林照峯 (三重大学),篠木剛 (三重大学),北英彦 (三重大学),高瀬治彦 (三重大学)

キーワード: テストデータ圧縮|多重スキャン構造|VLSIテスト|ドントケア検出|論理回路|test data compression|multiple scan structure|VLSI test|don't-care identification|logic circuit

要約(日本語): 本論文では,多重スキャン構造をもつ回路のテストデータ圧縮法として以下の2つからなる手法を提案する.第1に,テストデータのある指定部分を対象とする選択的ドントケア検出を用いてスキャンベクトル種類数を減らす.第2に,出現頻度の高いスキャンベクトルに対して基準長の符号を割り当て,出現頻度の低いスキャンベクトルについては基準長の2倍の長さの符号を割り当てるコード化法を用いて符号の基準長を短くする.これらの手法を組み込むことにより,簡単な復号回路で圧縮効率を高めることができるようにする. ISCASベンチマーク回路に対する実験により,提案手法の圧縮効率を評価し,その有効性を確認する.

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