テスト容易化マルチコンテキストFPGA

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC2-8

グループ名: 【C】平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2003/08/29

タイトル(英語): Easily Testable Multi-Context FPGAs

著者名: 伊藤 秀男(千葉大学)

著者名(英語): Hideo Ito(Chiba University)

キーワード: テスト|故障検出|FPGA|マルチコンテキスト|再構成|test|fault detection|FPGA|multi-context|reconfiguration

要約(日本語): テスト容易なマルチコンテキストFPGA（MC-FPGA）の構造とそのテスト手法を提案している.MC-FPGAは同一規模の通常の単一のコンテキストをもつFPGA（SC-FPGA）へマルチコンテキストメモリとその選択のためのデコーダを加えた構造とする.すなわち,MC-FPGAの論理回路ブロックやスイッチ回路ブロック,それに配線などは同一規模のSC-FPGAと同一な構造である.ところで,任意の単一固定縮退故障を対象にするとき,SC-FPGAのテストと生成は既に提案されている.そこで,MC-FPGAのためのテストTmとして,SC-FPGAのテストTsを利用することを考える.提案手法によってTsより導出されたTmが,MC-FPGAの任意の故障を検出することを示す.

PDFファイルサイズ: 4,887 Kバイト