ハフマン符号に基づくテストデータ展開機構について

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC2-9

グループ名: 【C】平成15年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2003/08/29

タイトル(英語): A Test Decompression Scheme Based on Huffman Coding

著者名: 新谷 道広(広島市立大学),市原 英行(広島市立大学),井上 智生(広島市立大学)

著者名(英語): Michihiro Shintani(Hiroshima City University),Hideyuki Ichihara(Hiroshima City University),Tomoo Inoue(Hiroshima City University)

キーワード: ハフマン符号|テスト圧縮|展開器|バッファ|Huffman code|test compression|decompressor|buffer

要約(日本語): 大規模LSIのテストデータの増加が原因で生じるテスト実行時間の増加やテスタメモリ不足などの問題を軽減するため,被テスト回路内部でテストデータを圧縮・展開する手法が期待されている.本研究グループでは,テストデータを圧縮するために用いる符号化手法としてハフマン符号に着目している.本論文では,ハフマン符号を用いて圧縮されたテストデータを被テスト回路内部で展開するための埋め込み展開器のモデルを提案する.提案する埋め込み展開器のモデルはバッファを有するモデルであるため,そのバッファサイズと展開器のデータ入出力速度の関係が重要であり,このバッファサイズと入出力速度比の関係について考察する.さらに,このモデルを実現した埋め込み展開器の設計例を示し,バッファを用いたことで入出力速度比の制約条件が緩和できる点を明らかにする.設計例ではテスタと圧縮器との同期機構についても検討を行う.

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