大きな特性変動をうけるプラントへの<i>H</i>∞制御

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC2-3

グループ名: 【C】平成16年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2004/09/02

タイトル：大きな特性変動をうけるプラントへのH_∞制御

タイトル(英語): Design of H_∞ control for a plant with large changes in characteristics

著者名: 山川 雄司(東京大学),古瀧 雅和(小山工業高等専門学校),山崎 敬則(小山工業高等専門学校),松葉 匡彦(山武),神村 一幸(山武),黒須 茂(クロテック)

著者名(英語): Yuji Yamakawa(The University of Tokyo),Masakazu Kotaki(Oyama National College of Technology),Takanori Yamazaki(Oyama National College of Technology),Tadahiko Matsuba(Yamatake Co.,Ltd.),Kazuyuki Kamimura(Yamatake Co.,Ltd.),Shigeru Kurosu(Research Inst. C)

キーワード: プロセス制御|1次おくれ＋むだ時間系|H∞制御H∞制御|process control|a first-order lag plus a deadtime system|H∞ control

要約(日本語): プロセス制御において，プラントは1次おくれ＋むだ時間系で近似され，その特性値は，操作量によって大幅に変動し，ロバスト性をもったコントローラの設計が必要である．本論文では，特性値が2倍～3倍に変動するプラントに対して，閉ループ系が安定を保ちながら，外乱抑制や目標値追従といった制御性能を向上するH∞補償器を設計する．設計したH∞補償器は，特性値が大幅に変動しても，安定かつ良好な制御性能を得る．さらに，H∞補償器は観測ノイズに対して強く，省エネの観点からもH∞補償器の有効性を明らかにしている．設計したH∞補償器は，PIDコントローラの観点から見ると，積分動作の弱いPIコントローラに酷似している．

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