電子機器より出る不要輻射の温度特性の測定
電子機器より出る不要輻射の温度特性の測定
カテゴリ: 部門大会
論文No: TC2-2
グループ名: 【C】平成16年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集
発行日: 2004/09/02
タイトル(英語): Thermal Dependency of the EMI from electric equipment
著者名: 大内二郎(東北リコー),加藤孝一(東北リコー),庄子真一(東北リコー),高橋正広(東北リコー),五十嵐力(東北リコー),色川重信(東北リコー),高橋淳(福島県ハイテクプラザ),吉村慶之(石川県工業試験場),黒木聖司(創価大学),伊藤健一(イトケン研究所)
著者名(英語): Jiro Ouchi(Tohoku Ricoh Co. Ltd.),koichi Kato(Tohoku Ricoh Co. Ltd.),Shinichi Shoji(Tohoku Ricoh Co. Ltd.),Masahiro Takahashi(Tohoku Ricoh Co. Ltd.),Chikara Igarashi(Tohoku Ricoh Co. Ltd.),Shigenobu Irokawa(Tohoku Ricoh Co. Ltd.),Atsushi Takahashi(Fukushi)
キーワード: EMI|温度特性|EMC|電波半無響室|ノイズ規制|EMI|thermal dependency|EMC|semi anechoic chamber|noise regulation
要約(日本語): 電子機器からの放射ノイズは周囲の温度や装置の温度によって変化し,特に温度が上昇すると放射ノイズが低減することが多いことが経験的に知られている.本報告では,電波半無響室において室内温度を制御しながら放射ノイズを測定することにより,放射ノイズが温度によって変化することを実験的に確かめた.また,電子機器を構成する配線や部品などについて個別に測定や考察を行い,その原因を検討した.
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