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帯電物体の移動により金属筐体内部に生じる静電誘導電圧 - 金属筐体内の導体面積による影響 -

帯電物体の移動により金属筐体内部に生じる静電誘導電圧 - 金属筐体内の導体面積による影響 -

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カテゴリ: 部門大会

論文No: TC2-4

グループ名: 【C】平成16年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2004/09/02

タイトル(英語): Electrostatically induced voltage generated in a metal box when a charged body moves ?Influence by an area of the conductor in the metal box?

著者名: 市川 紀充(東京農工大学),大熊康典 (東京農工大学),高橋 雄造(東京農工大学)

著者名(英語): Norimitsu Ichikawa(Tokyo University of Agriculture and Technology),Yasunori Ohkuma(Tokyo University of Agriculture and Technology),Yuzo Takahashi(Tokyo University of Agriculture and Technology)

キーワード: 静電誘導電圧|導体の面積|帯電物体の移動|金属筐体|electrostatically induced voltage|area of a conductor|moving of a charged body|shielded metal box

要約(日本語):  帯電した人体等が金属筐体の近くを移動すると,筐体内部に誘導電圧が発生し,半導体素子を破壊したり電子機器が誤動作する。これまでに筆者等は,比較的大きめな二つの導体を用いて筐体内部に生じる誘導電圧を測定してきた。本論文では,筐体内部に配置した二つの導体の面積を変えて測定した。その結果,筐体内部の電極の面積(対称)が10倍になると誘導電圧が約1.5倍になる。また,二つの導体(非接地)のうち一方の面積が固定されていると,他方の導体の面積が小さくても誘導電圧は変わらない。隣接する導体のうち一方の面積が小さくても他方の面積が大きいと誘導電圧が高くなり,筐体内部の基板上に生じる誘導電圧が高くなることがわかった。この研究は,電子回路基板における誘導ノイズ対策の基礎研究として,電子回路基板の設計技術に役立つだろう。

PDFファイルサイズ: 4,838 Kバイト

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