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高速欠損領域除去アルゴリズムの検討

高速欠損領域除去アルゴリズムの検討

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カテゴリ: 部門大会

論文No: OS2-16

グループ名: 【C】平成17年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2005/09/06

タイトル(英語): A fast algorithm for eliminating holes inside facial area

著者名: 崔英泰 (埼玉工業大学),大野 博(工学院大学),木村 祐美子(埼玉工業大学),渡部 大志(埼玉工業大学),中村 納(工学院大学)

著者名(英語): Hideyasu Sai(Saitama Institute of Technology),hirosi Ohno(Kougakuin University),yumiko kimura(Saitama Institute of Technology),daisi watabe(Saitama Institute of Technology),osamu nakamura(Kougakuin University)

キーワード: 穴埋め|ラベリング|2値画像2値画像|eliminating holes|labeling|binary image

要約(日本語): There remains many defected areas(holes) inside a face when the thresholding is executed to isolate facial area from the background. These holes must be eliminated in advance for the extraction of facial parts such as eyes, mouth, and nose which should be extracted with high accuracy.
In this paper, a high speed elimination algorithm of holes developed instead of using propagation and shrinking operation is presented.
The proposed method can be executed independently of the size of holes.

PDFファイルサイズ: 1,766 Kバイト

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