空洞共振器の端に装荷された平板試料のミリ波複素誘電率の温度依存性測定

カテゴリ: 部門大会

論文No: TC2-3

グループ名: 【C】平成17年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2005/09/06

タイトル(英語): Millimeter wave measurement for temperature dependence of complex permittivity for dielectric plate loaded at end of cavity resonator

著者名: 吉川 博道(京セラ),中山 明(京セラ)

著者名(英語): Hiromichi Yoshikawa(Kyocera Corporation),Akira Nakayama(Kyocera Corporation)

キーワード: 測定法|ミリ波|比誘電率|誘電正接|温度依存性誘電体|measurement method|millimeter wave|permittivity|loss tangent|temperature dependencedielectric plate

要約(日本語): 空洞共振器の端に誘電体平板試料を配置した構造を用いて、ミリ波帯において複素誘電率の温度依存性を測定した。LTCC試料に対して温度依存性の測定を行い、３５GHｚにおける比誘電率の温度係数として64.5ppm/℃を得た。この値は、マイクロ波帯において空洞共振器法（JIS)により測定した値65ppm/℃と一致した。

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