Extraction method of silhouette image for initial failure detection of high frequency analog circuit using thermography

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC4-8

グループ名: 【C】平成18年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2006/09/05

タイトル(英語): Extraction method of silhouette image for initial failure detection of high frequency analog circuit using thermography

著者名: 山根 裕(早稲田大学),李羲頡 (早稲田大学)

著者名(英語): Yu Yamane(Waseda University),Hee-Hyol Lee(Waseda University)

キーワード: silhouette image|initial failure detection|high frequency analog circuit|thermography

要約(日本語): 近年, 電子回路を構成する部材の高機能化, 高品質化に伴い, 品質管理の信頼性向上のために初期故障箇所を早期に検出することが必要となっている. 初期故障検出の代表的手法として, バーンイン試験がよく知られているが, バーンイン試験は比較的長い時間を要し, 初期異常が検出されたとしても異常箇所を検出することは一般に困難である. 本報告では, 非接触でオンライン計測が可能な赤外線サーモグラフィを用いて, 高周波アナログ回路を対象に, 熱画像データの時間差分熱画像処理により, 電子素子の不良箇所をシルエット画像として抽出する有効性について検討した.

PDFファイルサイズ: 2,479 Kバイト