マイクロストリップ回路を用いたフェライト透磁率温度特性測定

カテゴリ: 部門大会

論文No: GS1-2

グループ名: 【C】平成21年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2009/09/03

タイトル(英語): Temperature Profile Measurement of Ferrite Permeability Using a Microstrip Line Circuit

著者名: 加藤真史 (三重大学),庫本 篤(三重大学),蟹江 知彦(青山テクノロジー),野呂 雄一(三重大学),竹尾 隆(三重大学)

著者名(英語): Kato Masashi(Mie University),Kuramoto Atsushi(Mie University),Kanie Tomohiko(Aoyama Technology),Noro Yuichi(Mie University),Takeo Takashi(Mie University)

キーワード: フェライト|透磁率|温度特性|マイクロストリップ回路|Ferrite|Permeability|Temperature Profile|Microstrip Line Circuit

要約(日本語): 我々は磁性体の透磁率分散を簡易に測定する，マイクロストリップ(MSL)を用いた方法を検討している．本手法は，簡易，小型，安価であり，また試料の加工を伴わず測定可能である．本発表では，このMSL法を利用してフェライト材料の透磁率分散の温度特性について評価した結果を報告する．

本手法では，温度特性を簡易に測定することが可能であり，特性を予測するパラメータの推定も可能であることがわかった．

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