統計的リーチ特徴に基づく背景差分における点対探索方法の検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: TC8-3

グループ名: 【C】平成21年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2009/09/03

タイトル(英語): Discussion of search method for background subtraction based on statistical reach feature

著者名: 岩田健司(産業技術総合研究所),佐藤雄隆(産業技術総合研究所),尾崎竜士(産業技術総合研究所),坂上勝彦(産業技術総合研究所)

著者名(英語): kenji Iwata(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST)),yutaka Satoh(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST)),ryushi Ozaki(National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST))

キーワード: 統計的リーチ特徴|背景差分|増分符号相関|放射リーチ相関|特徴抽出|statistical reach feature|background subtraction|incremental sign correlation|radial reach correlation|feature extraction

要約(日本語): 統計的リーチ特徴（SRF）法は、画像群中において明度の大小関係が一貫して安定に保たれる点対を統計的な基準に従って選択し、その保存性に着目するメカニズムにより画像群中に安定して存在する特徴を抽出する。これに基づく背景差分法は、照明変動や木々の揺れなど空間的・時間的な外乱があってもロバストに前景を抽出することができる。本論文ではSRFを用いた背景差分における、点対の探索方法について検討する。実際のカメラ映像における実験により、解像度の低下を避けるための放射探索やランダムサンプリング方式を比較検討する。

PDFファイルサイズ: 6,421 Kバイト