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脈波時系列における揺らぎとストレスの関係

脈波時系列における揺らぎとストレスの関係

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カテゴリ: 部門大会

論文No: OS1-7

グループ名: 【C】平成22年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2010/09/02

タイトル(英語): Relation between Stress and Fluctuation in Plethysmogram

著者名: 清水 敏寛(国士館大学),内田 智士(倫理研究所)

著者名(英語): Toshihiro Shimizu(Kokushikan University),Satoshi Uchida(RINRI Institute of Ethics)

キーワード: 脈波|ストレス|揺らぎ揺らぎ|Plethysmogram|Stress|Fluctuation

要約(日本語):  心拍電位に関する研究によると外部から種々のストレスが加わると、心拍電位の時系列におけるR波のピーク間隔が揺らぐことが知られている。このR波の間隔(RRIという)の時系列のパワースペクトルを計算すると二つのピークが見られ、ストレスが加わると低周波側のピークが高くなり、逆に高周波側のピークが低くなる。
 この研究ではストレスを付加する前後における脈波時系列を測定し、その揺らぎを反復写像の方法を用いて解析し、心拍電位の結果と比較検討する。

PDFファイルサイズ: 2,120 Kバイト

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