電子部品検査における単眼視ステレオ計測の高精度化

カテゴリ: 部門大会

論文No: TC10-8

グループ名: 【C】平成22年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2010/09/02

タイトル(英語): Developing Higher Precision Single Stereo Measurement for Precise Inspection of Electronic Devices

著者名: 草野　洸(中京大学),渡辺　隆(中京大学　人工知能高等研究所),舟橋琢磨(中京大学),藤原孝幸(中京大学),輿水大和(中京大学)

著者名(英語): akira kusano|takashi watanabe|takuma funahashi|takayuki fujiwara|hiroyasu koshimizu

キーワード: 単眼視ステレオ計測|電子部品検査|single stereo measurement|inspection of electronic devices

要約(日本語): 本論文では、電子部品製造工程での自動検査に適した計測法として単眼視でのステレオ計測を提案する.多様な製品形状に対応し易い3次元計測を単眼視で実現する事は導入の際の大きなメリットとなる為、自動化検査にて起こりうる製品移動での位置ズレによる問題点の解決策と、組立・実装時に要求されるマイクロオーダーの精度を実現するための検証を実験治具にて行ったので、その結果を報告する.

PDFファイルサイズ: 3,705 Kバイト