銅張誘電体積層基板のミリ波測定法と測定結果

カテゴリ: 部門大会

論文No: TC16-3

グループ名: 【C】平成22年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2010/09/02

タイトル(英語): Millimeter-Wave Measurement Methods of Copper-Clad Dielectric Luminate Substrates and Their Measured Results

著者名: 小林 禧夫(サムテック),清水 隆志(宇都宮大学)

著者名(英語): Yoshio Kobayashi(SUMTEC,Inc.),Takashi Shimizu(Utsunomiya University)

キーワード: ミリ波回路|誘電体|測定法|誘電率測定|millimeter wave circuit|dielectric material|measurement method|dielectric measurement

要約(日本語): ミリ波平面回路の構成には、種々の銅張誘電体積層基板が用いられる。これらの基板の複素誘電率は異方性をもち、基板に垂直な方向の値は面内の値と異なる。マイクロストリップ線路構造では垂直な方向の誘電率が支配的であり、コプレーナ線路構造では面内の誘電率が支配的である。本講演では、ミリ波平面回路の高精度設計を実現するため、また新材料を開発するために、種々のミリ波測定法を紹介し、これらの測定法による低損失誘電体基板の測定結果を提供する。

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