同軸プローブに基づいた複素電磁パラメータの測定

カテゴリ: 部門大会

論文No: PS6-11

グループ名: 【C】平成23年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2011/09/07

タイトル(英語): Simultaneous Measurement of Complex EM-Parameters Based on Open-Ended Coaxial

著者名: 高森 大輝(神奈川大学),野田 祐矢(神奈川大学),上地 洋輔(神奈川大学),陳 春平(神奈川大学),穴田 哲夫(神奈川大学),馬 哲旺(埼玉大学)

著者名(英語): Hiroki Takamori(Kanagawa University),Yuuya Noda(Kanagawa University),Yousuke Kamiji(Kanagawa University),ChunPing Chen(Kanagawa University),Tetsuo Anada(Kanagawa University),Zhewang Ma(Saitama University)

キーワード: 複素電磁パラメータ|複素誘電率|複素透磁率|同軸プローブ|測定|Complex EM-Parameters|complex permittivity|complex permeability|Coaxial probe|measurement

要約(日本語): 高周波吸収材料の複素誘電率および複素透磁率を同時に測定するための先端開放同軸プローブを用いた評価方法を検討した。この測定手法はスペクトル領域法に基づいている。厚さが異なる同種の試料から、二つの複素反射係数を測定し、複素誘電率および複素透磁率を併せて評価する。更に、提案した測定手法において、計算、モデリング、測定などに関連した誤差原因の系統的な考察の基に、不確かさの連立方程式が確立された。数値解析は、測定精度に同軸線路のサイズの影響を考慮し、不確かさと測定材料の膜厚との関係を3次元等高線図として示せる。最後に、実際のマイクロ波吸収材料の複素誘電率及び透磁率を広帯域に渡って測定し、その測定誤差と理論的不確かさの予測との比較は、我々の定式化の有効性を確認する。

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