パターン刺激に対する神経回路の応答測定

カテゴリ: 部門大会

論文No: TC3-4

グループ名: 【C】平成24年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2012/09/05

タイトル(英語): Measurement of the response of neural circuits to the pattern stimulation

著者名: 丸山 達也(東京工業大学),宮本 義孝(国立成育医療研究センター),八木 透(東京工業大学)

著者名(英語): Tatsuya Maruyama(Tokyo Institute of Technology),Yoshitaka Miyamoto(Natl. Center for Child Health & Development),Tohru Yagi(Tokyo Institute of Technology)

キーワード: 皮質培養神経回路|マイクロ電極アレイ|電気刺激|可塑性|cultured cortical networks|micro-electrode array|electrical stimulation|plasticity

要約(日本語): 神経細胞は特定の刺激に対して選択的に応答スパイク数を変化させるが、これは学習や記憶において重要な役割を果たしていると考えられている．本研究では，微小電極を集積化した電極アレイ基板上に培養された大脳皮質神経回路に対して，与えるパルス刺激の各種パルスパラメータを調整することで応答スパイク数の制御を目指した．神経ネットワークは10秒より短い間隔で連続的に刺激を与えると応答スパイク数が減少することが知られている．そこで今回は20秒を1周期として，この周期内に2秒間隔で刺激を一定数与え、1周期あたりの刺激数Nと応答スパイク数の減少率（刺激に対する応答）との関係を調査した．その結果，刺激数Nの増加に伴い応答スパイク数の減少率が大きくなることが確認された．また，各周期内において周期内の第1刺激に対する応答スパイク数がそれ以降の刺激に対する応答スパイク数よりも有意に大きいことが確認された．

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