共通源故障による誤動作と機能安全国際規格の視点

カテゴリ: 部門大会

論文No: OS6-1

グループ名: 【C】平成25年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2013/09/04

タイトル(英語): Malfunction effected by common caused failure, and its viewpoint on the functional safety standard

著者名: 田代 維史(交通安全環境研究所),中村 英夫(日本大学)

著者名(英語): Korefumi Tashiro(NTSEL),Hideo Nakamura(Nihon University)

キーワード: 共通源障害|FPGA|機能安全規格|フェールセーフ|common caused failure|FPGA|functional safety standard|fail safe

要約(日本語): FPGAを用いたマルチコアプロセッサが安全性の面から着目されている。一方，機能安全国際規格では，校正用炉の独立性を安全性確保の観点から重視している。本論文では，共通源故障がFPGAの中でどのように作用するか検討し，概念的な独立性の主張は実際にそぐわないことを明らかにする。

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