微細LSIにおけるリーク電流が回路遅延に与える影響

カテゴリ: 部門大会

論文No: OS7-2

グループ名: 【C】平成25年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2013/09/04

タイトル(英語): Impact of Leakage Currents on Circuit Delay in Advanced LSIs

著者名: 星 誠(弘前大学),渡邊 眞之(弘前大学),小林 徹哉(弘前大学),深瀬 政秋(弘前大学),黒川 敦(弘前大学)

著者名(英語): Makoto Hoshi(Hirosaki University),Masayuki Watanabe(Hirosaki University),Tetsuya Kobayashi(Hirosaki University),Masaaki Fukase(Hirosaki University),Atsushi Kurokawa(Hirosaki University)

キーワード: リーク電流|遅延|ばらつき|信頼性|消費電力|Leakage Current|Delay|Variability|Reliability|Power Consumption

要約(日本語): LSIにおいて、トランジスタのリーク電流は待機時の消費電力として古くから問題視されてきた。しかし、遅延へ与ええる影響はほとんど報告されてない。近年微細化に伴い、信頼性経時劣化に起因したリークの増加が問題になってきている。プロセス変動だけでなく、経時劣化のばらつきもあり、局所的なリークは遅延へ影響を及ぼしかねない。本論文では、微細LSIのリーク電流（サブスレッショールドリーク電流、ゲートリーク電流、ゲート誘導ドレインリーク（GIDL）電流、PN接合リーク電流）が遅延へ与える影響を明確にする。

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