2Phaseハンドシェイクプロトコルに基づく非同期式回路のスキャンテスト

カテゴリ: 部門大会

論文No: OS1-4

グループ名: 【C】平成26年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2014/09/03

タイトル(英語): Scan Test of Asynchronous Circuits based on 2Phase Handshaking Protocol

著者名: 寺山 恭平(弘前大学),今井 雅(弘前大学),黒川 敦(弘前大学)

著者名(英語): Kyohei Terayama(Hirosaki University),Masashi Imai(Hirosaki University),Atsushi Kurokawa(Hirosaki University)

キーワード: 2Phaseハンドシェイクプロトコル|非同期式回路|スキャンテスト|スキャンD-Latch|2Phase Handshaking Protocol|Asynchronous Circuits|Scan Test|Scan D-Latch

要約(日本語): 非同期式回路の一つであるMOUSETRAPパイプライン回路は2Phaseハンドシェイクプロトコルに基づいて動作するため、オーバーヘッドが小さく動作が速い回路である。しかしながら、この回路のテスト方式は確立されていない。本稿では、MOUSETRAPパイプライン回路に使用されているD-Latchをスキャンテストに対応させたスキャンD-Latchを提案する。さらに回路全体を可観測、可制御にするため、設計したスキャンD-Latchとそれに応じた必要最小限の信号線による実装方式を提案する。また、故障モデルとしてSingle Stuck-at Faultを仮定し、組み合わせ回路として加算回路、ISCAS89ベンチマーク回路を用い、提案方式のオーバーヘッドや故障検出率を評価した結果を示す。

PDFファイルサイズ: 445 Kバイト