VLSIチップにおける電源雑音の評価とモデリング

カテゴリ: 部門大会

論文No: TC6-5

グループ名: 【C】平成26年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2014/09/03

タイトル(英語): Modeling and evaluation of power noise in VLSI chips

著者名: 永田 真(神戸大学)

著者名(英語): Makoto Nagata(Kobe University)

要約(日本語): VLSIチップにおける電源ノイズの問題について、実験的な評価手法およびシミュレーションによる解析手法を概説するとともに、ワイアレス通信のフロントエンドにおけるノイズ干渉について65 nm CMOS技術テストチップを事例として説明する。

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