試験問題解答時における視線の軌跡研究

カテゴリ: 部門大会

論文No: PS1-3

グループ名: 【C】平成28年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2016/08/31

タイトル(英語): A Study of Eye Movement Analysis During Examinations

著者名: 中村 駿平(国士舘大学),神津 薫(国士舘大学)

著者名(英語): Shunpei Nakamura|Kaoru Kouzu

キーワード: 視線|軌跡|試験問題試験問題|line of sight|locus|examination

要約(日本語): 近年では、大学学内での学習だけでなく、自宅でのe-Learningも利用されている。そうした場合、学生が解答時間内に問題を全て解けるかどうかの把握が難しい。そこで、本実験では学校の試験や文章を読む際に、視線の動き方が問題を解く際にどのような軌跡を辿り、注視時間はどの位かかるかを調査した。アイトラッカーと解析プログラムを利用し、数学等の問題を被験者に解かせ、注視している箇所を可視化することに重点をおき分析する。　問題の作成時に時間配分など問題の難易度が適切かどうかを、被験者が各問に対してどの位注視しているかを研究することにより、全ての問を被験者がなるべく解けるようなバランスの良い問題が作成できる。結果として本人が難しい問題だと判断した場合、他の問題を探るように視線が動き、一度解けている問題に再度視線が移る、またはすぐに次の問題へ移るなど被験者によって違う視線の動きが見られた。

PDFファイルサイズ: 295 Kバイト