バッチプロセス向けMSPCにおける新しい異常判定方式

カテゴリ: 部門大会

論文No: GS7-3

グループ名: 【C】平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2017/09/06

タイトル(英語): New Fault Discrimination Method for Batch Process MSPC

著者名: 村上 賢哉(富士電機),飯坂 達也(富士電機),松井 哲郎(富士電機),中嶋 孝広(富士電機)

著者名(英語): Kenya Murakami|Tatsuya Iizaka|Tetsuro Matsui|Takahiro Nakajima

キーワード: バッチプロセス|異常検知|多変量統計的プロセス管理|異常判定|Batch Process|Fault Detection|Multivariate Statistical Process Control|Fault Discrimination

要約(日本語): 消費者の製品品質に対する要求の高まりを受け、世の中の製造プロセスの多くを占めるバッチ製造プロセスにおいても高度な品質管理が要求されている。これに対して前報で記したように、バッチプロセス向けMSPC技術によって進行中のバッチの異常検知とそれによる製品品質不具合等の未然防止が可能となった。本論文ではこのバッチプロセス向けMSPCにおけるバッチ進行中の異常指標と閾値の新しい定め方について述べる。

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