電子部品の外観検査におけるHOG評価のためのHistogram IntersectionとKullback Leibler Divergenceの比較検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: GS9-2

グループ名: 【C】平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2017/09/06

タイトル(英語): Comparison of Histogram Intersection and Kullback Leibler Divergence for HOG Evaluation in Visual Inspection of Electric Components

著者名: 西村 晃紀(広島工業大学),柳部 正樹(広島工業大学),青戸 勇太(広島工業大学),森山 健(広島工業大学),長谷 智紘(広島工業大学),前田 俊二(広島工業大学)

著者名(英語): Koki Nishimura|Masaki Yanabe|Yuta Aoto|Takeru Moriyama|Tomohiro Nagatani|Shunji Maeda

キーワード: 外観検査|HOG特徴量|Histogram Intersection|Kullback Leibler Divergence|visual inspection|HOG feature|Histogram Intersection|Kullback Leibler Divergence

要約(日本語): 精密な電子部品を製造する際には，部品の欠陥の有無が検査装置による自動検査により識別されている．しかし，検査装置が欠陥候補として判定したもののなかには良品も多く含まれ，過検出が起こりうる．そのため，目視による再検査によって，欠陥候補を欠陥画像と良品画像に分ける作業が行われている．製造工程の効率化を実現するためには，目視による検査を自動化する必要がある．本研究では，検査対象とする画像の切出し位置の決定および比較する画像間での位置合わせを，HOG（Histograms of Oriented Gradients）特徴量の類似度によりおこない，欠陥画像と良品画像の分類を可能とすることを目的とする．本報告は，類似度を算出する手法として用いた，HI（Histogram Intersection）とKLD（Kullback Leibler Divergence）を比較した結果を報告するものである．

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