同軸プローブ変化法を用いた電波吸収体の複素電磁パラメータの非破壊測定に関する一検討

カテゴリ: 部門大会

論文No: PS1-3

グループ名: 【C】平成29年電気学会電子・情報・システム部門大会講演論文集

発行日: 2017/09/06

タイトル(英語): Nondestructive Measurement of Complex EM-parameters of Absorbing Materials by Coxial-Probe-Variation-Method

著者名: 木川 駿(神奈川大学),陳 春平(神奈川大学),穴田 哲夫(神奈川大学),張 沢君(神奈川大学)

著者名(英語): Shun Kikawa|ChunPing Chen|Tetuo Anada|Zejun Zhang

キーワード: 同軸プローブ変化法|複素電磁パラメータ|非破壊測定|開放端同軸プローブ|誘電率透磁率|Coxial-Probe-Variation-Method|Complex EM-parameters|Nondestructive Measurement|Open-ended Coaxial Probe|PermittivityPermeability

要約(日本語): 本稿では，開放端同軸プローブに基いた電波吸収体の複素電磁パラメータを同時に検出するための現場での測定法について検討し，従来の「膜厚変化法」を利用する際に，被測定材料において，二つ以上の異なる厚さが必須であるという制限を無くすために，寸法（内径と外径）が異なる二つの開放端同軸プローブを用いることにより，二つの複素反射係数を獲得する「同軸プローブ変化法」を提案し，検討した．先ず，スペクトル領域法に基づいて，複素電磁パラメータと反射係数の関係式を導出した．次に，自働測定システムの構成を示した．最後に，電磁界シミュレーションと測定による反射係数を組み合わせることにより，磁性電波吸収体の複素材料定数を測定した．実験結果と参考値は一致していることにより，提案した測定法の有効性及び妥当性が確かめられた．

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