植物の遺伝解析研究の現状と形質計測技術の開発

カテゴリ: 部門大会

論文No: MC2-1

グループ名: 【C】平成30年電気学会電子・情報・システム部門大会プログラム

発行日: 2018/09/05

タイトル(英語): Overview for Recent Plant Genetic Analysis Research and Development of Plant Phenotyping Technology

著者名: 七夕 高也(かずさDNA研究所),磯部 祥子(かずさDNA研究所)

著者名(英語): Takanari Tanabata|Sachiko Isobe

キーワード: ゲノム育種|画像計測|農学農学

要約(日本語): 農学，植物科学の研究分野において遺伝解析の急速な発展により膨大な量のゲノム情報の獲得と蓄積が進み，ゲノム情報を活用した品種改良や遺伝子機能の解明の研究が加速している。植物の形質（植物個体や葉などの大きさ，収穫する種子や果実の量や形など）の高精度かつ大量の計測データは，ゲノム情報とあわせて植物の持つ機能の解明やゲノム情報を活用した品種改良において有用な情報となる。植物の形質計測は植物体や収穫物の形状や色彩の計測が中心であることから画像技術を活用した効率よく大量に計測するための技術や装置が欧米を中心とした農業関連の研究機関を中心に開発が進んでいる。本発表では，植物の遺伝解析研究の現状の紹介と計測技術開発に対するニーズや技術開発の事例を紹介する。

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