SRAM型FPGAへの中性子照射試験によるソフトエラー影響評価

カテゴリ: 部門大会

論文No: GS14-6

グループ名: 【C】2019年電気学会電子・情報・システム部門大会プログラム

発行日: 2019/08/28

タイトル(英語): SEU (Single Event Upsets) Evaluation of SRAM-based FPGAs by Neutron irradiation test

著者名: 浜田 修史(東芝エネルギーシステムズ),浅井 弘彰(HIREC),槇原 亜紀子(HIREC),児玉 敏秀(東芝エネルギーシステムズ),中村 善史(東芝エネルギーシステムズ)

著者名(英語): shuji hamada | hiroaki asai | akiko makihara | toshihide kodama | yoshifumi nakamura

キーワード: ソフトエラー|FPGA|SEU|中性子|サイクロトロン|Soft error|FPGA|SEU|Neutron|Cyclotron

要約(日本語): 近年半導体の細分化が進むにつれ半導体デバイスの低電圧化が進み中性子が起因となるソフトエラーが問題となっている。通常設備ではソフトエラーの試験は出来ないが，大阪大学核物理研究センターが中性子照射設備を有しており，当該設備にてSRAM型のFPGAに中性子を照射し実際のエラー発生状況を確認した。FPGAはソフトエラー対策版と未対策版の2つを用い評価した。試験内容，エラー発生状況の詳細について発表する。

PDFファイルサイズ: 482 Kバイト