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マイクロ波帯における基板材料の複素誘電率測定法
マイクロ波帯における基板材料の複素誘電率測定法
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カテゴリ: 研究会(論文単位)
論文No: DEI06077
グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会
発行日: 2006/12/18
タイトル(英語): Measurement Methods of Dielectric Property for Substrate in Microwave Region
著者名: 戸高 嘉彦(アジレント・テクノロジー株式会社),小林 喜夫(埼玉大学地域共同研究センター)
著者名(英語): Yoshihiko Todaka(Agi1ent Technologies,Inc.),Yoshio Kobayashi(Cooperative Research Center Saitama University)
キーワード: 誘電率| 基板| S パラメータ法| 容量法| 共振法| マイクロウェーブ
原稿種別: 日本語
PDFファイルサイズ: 1,561 Kバイト
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