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マイクロ波帯における基板材料の複素誘電率測定法

マイクロ波帯における基板材料の複素誘電率測定法

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI06077

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2006/12/18

タイトル(英語): Measurement Methods of Dielectric Property for Substrate in Microwave Region

著者名: 戸高 嘉彦(アジレント・テクノロジー株式会社),小林 喜夫(埼玉大学地域共同研究センター)

著者名(英語): Yoshihiko Todaka(Agi1ent Technologies,Inc.),Yoshio Kobayashi(Cooperative Research Center Saitama University)

キーワード: 誘電率| 基板| S パラメータ法| 容量法| 共振法| マイクロウェーブ

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,561 Kバイト

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