イオンマイグレーション試験のデータ解析と寿命予測

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI06086

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2006/12/18

タイトル(英語): Analysis of data obsetved on ion migration test and estimation of lifetime

著者名: 柳澤 武(産業技術総合研究所),佐伯 和幸(エーディーシー)

著者名(英語): Takeshi Yanagisawa(AIST),Kazuyuki Saeki(ADC)

キーワード: イオンマイグレーション| 信頼性試験| 加速試験| データ解析手法| 寿命予測

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 973 Kバイト