軟X線顕微鏡を用いたデンドライトの密度分布の経時変化に関するイオンマイグレーションの研究

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI07073

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門　誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2007/09/11

タイトル(英語): Study of ion migration on the density of dendrites with time by using a soft X-ray microscope

著者名: 中井戸宙 (秋田大学),水戸部 一孝(秋田大学),吉村 昇(秋田大学)

著者名(英語): Hiroshi Nakaido(Akita University),Kazutaka Mitobe(Akita University),Noboru Yoshimura(Akita University)

キーワード: イオンマイグレーション|デンドライト|WDT法|軟X線顕微鏡|プリント配線板|銅電極|Ion migration|Dendrite|Water drop test|Soft X-ray microscope|Printed wiring board|Cupper electrode

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 472 Kバイト