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部分放電によるボイド表面劣化と絶縁破壊特性との関係の検討

部分放電によるボイド表面劣化と絶縁破壊特性との関係の検討

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カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI10052

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2010/02/12

タイトル(英語): Relation between void surface degradation by Partial Discharge and Breakdown

著者名: 小谷 嘉則(名古屋大学),豊田 晃一(名古屋大学),古森 郁尊(鳥羽商船高等専門学校),加藤 丈佳(名古屋大学),鈴置 保雄(名古屋大学)

著者名(英語): Kodani Yoshinori(Nagoya University),Toyoda Kouichi(Nagoya University),Komori Fumitaka(Toba National College),Kato Takeyoshi(Nagoya University),Suzuoki Yasuo(Nagoya University)

キーワード: 部分放電|劣化|破壊|partial discharge|degradation|breakdown

要約(日本語): ボイド中の部分放電は雰囲気の条件によりボイド中を移動する場合と、ボイド内の数点に集中する場合がある。数点に集中する場合は、部分放電の強度は小さいものの破壊までの時間が短い傾向を示す。このことは、劣化生成物での電界集中と放電集中の結果、局所的なエネルギー注入量が増加したことによる可能性がある。

要約(英語): Partial discharge (PD) characteristics and light emission from PD were simultaneously observed and the results were compared with those of surface observation. In a closed void, PD activity becomes concentrated in a small spot after certain time of voltage application and, though the intensity of each PD pulse is small, the time before final breakdown is relatively short. This is explained in terms of higher accumulated energy input at the site of PD concentration in closed void.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,310 Kバイト

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