ケーブル絶縁用架橋ポリエチレンに生じる熱劣化のテラヘルツ分光による診断

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI12057

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2012/02/22

タイトル(英語): Terahertz Spectroscopic Diagnosis of Thermal Degradation Induced in Cross-linked Polyethylene for Cable Insulation

著者名: 小松 麻理奈(早稲田大学),山田 敏太(早稲田大学),佐藤 遼(早稲田大学),大木 義路(早稲田大学),水野 麻弥(情報通信研究機構),福永 香(情報通信研究機構)

著者名(英語): Komatsu Marina(Waseda University),Yamada Toshita(Waseda University),Sato Ryo(Waseda University),Ohki Yoshimiti(Waseda University),Mizuno Maya(National Institute of Information and Communications Technology),Fukunaga kaori(National Institute of Information and Communications Technology)

キーワード: テラヘルツ光|ケーブル絶縁材料|非破壊診断|架橋ポリエチレン|熱劣化|酸化|Terahertz light|cable insulating material|non-destructive diagnosis|cross-linked polyethylene|thermal degradation|oxidation

要約(日本語): 本稿では、ケーブルの高分子絶縁材料の熱劣化が、テラヘルツ分光により検出できる可能性について述べる。架橋ポリエチレンを185 ℃で25~200時間加熱し、時間領域分光透過法により0.6~3.6 THzにおける吸光度と複素誘電率スペクトルを測定したところ、とくに誘電損率のスペクトルに酸化劣化が原因と思われる変化が現れた。

原稿種別: 日本語

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