ポリプロピレンフィルムにおける密閉ボイドの部分放電劣化にフィルム表面構造が与える影響

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI14072

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2014/11/28

タイトル(英語): Influence of film-surface structure to the partial discharge deterioration in a closed void of polypropylene films

著者名: 淺井 孝憲(名古屋大学),栗本 宗明(名古屋大学),古森 郁尊(鳥羽商船高等専門学校),加藤 丈佳(名古屋大学),鈴置 保雄(名古屋大学),舟橋 俊久(名古屋大学),笹谷 幸生(日新電機株式会社),西出 秀樹(日新電機株式会社),小倉 慎太郎(日新電機株式会社),佐野 侑也(日新電機株式会社)

著者名(英語): Asai Takanori(Nagoya University),Kurimoto Muneaki(Nagoya University),Komori Fumitaka(National Institute of Technology,Toba College),Kato Takeyoshi(Nagoya University),Suzuoki Yasuo(Nagoya University),Funabashi Toshihisa(Nagoya University),Sasatani Yukio(Nissin Electric Technical Company Limited),Nishide Hideki(Nissin Electric Technical Company Limited),Ogura Shintarou(Nissin Electric Technical Company Limited),Sano Yuuya(Nissin Electric Technical Company Limited)

キーワード: ポリプロピレン|密閉ボイド|部分放電劣化|polypropylene|in a closed void|partial discharge deterioration

要約(日本語): 電力機器の長期的性能劣化における要因の1つが部分放電劣化であり，絶縁体中のボイドなどが起因となって生じる。電力コンデンサもその例外ではなく，長期的な部分放電の発生により絶縁破壊に至った例が散見されている。本研究では，電力コンデンサ内における油浸ポリプロピレン(PP)フィルムの基礎的な部分放電劣化メカニズムを検討するため，PPフィルムにおける密閉ボイドの部分放電劣化特性と表面構造が与える影響を調査した。

要約(英語): The long-term performance of power capacitor with polypropylene films can be affected by partial discharge deterioration characteristics. This paper investigated partial discharge deterioration characteristic in a closed void of polypropylene films and discussed the influence of the film-surface structure to these characteristics.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,507 Kバイト