密度汎関数法の電荷蓄積解析と高経年化・絶縁診断技術の開発

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI14086

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2014/12/09

タイトル(英語): DFT Analysis of Electrical Charge Accumulation in Insulation System and Development of Diagnosis Method for Long-term Degradation

著者名: 高田 達雄(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学),佐々木 三郎(東京都市大学)

著者名(英語): Takada Tatsuo(Tokyo City University),Miyake Hiroaki(Tokyo City University),Tanaka Yasuhiro(Tokyo City University),Sasaki Saburo(Tokyo City University)

キーワード: 高経年化|絶縁診断|放射線|電荷蓄積|直流絶縁材料|密度汎関数法|long-term degradation|electrical insulation diagnosis|radiation|electrical charge accumulation|DC electrical insulation|Density Function Theory

要約(日本語): 本報告は密度汎関数法の電荷蓄積解析と高経年化・絶縁診断技術の開発を提案するものである。その背景には、再生可能エネルギー導入のHVDCの高経年化直流絶縁性能の評価技術が必要になること。また、放射線場の高経年化の絶縁診断も同様である。そのために、外部診断の高電圧回路の電流積分電荷量計の開発、および、直流絶縁材料の絶縁診断のデータ・ベース(内部診断の電荷蓄積特性と量子化学計算による解析)の手法を提案している。

要約(英語): This paper reports the development of diagnosis advanced method for long-term degradation, which is composed of the external measurement of time integration of charge up current after application of dc voltage, the internal measurement of electric charge accumulation in the insulating materials under dc voltage and the analysis of in an insulation system by using Density Function Theory (DFT).

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,225 Kバイト