積層型セラミックチップコンデンサを対象とした低電圧用インパルス試験機の試作と波形の電圧依存

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI16054

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2016/03/04

タイトル(英語): Prototype Impulse Test Equipment for the Multi-Layer Ceramic Chip Capacitor and Voltage Dependence of Waveform

著者名: 鈴木 正太郎(芝浦工業大学),松本 聡(芝浦工業大学),打田 宏志(電子制御国際),安原 武志(電子制御国際)

著者名(英語): Shoutarou Suzuki(Shibaura Institute of technology),Satoshi Matsumoto(Shibaura Institute of technology),Hiroshi Uchida(ECG-Kokusai Co., Ltd.),Takeshi Yasuhara(ECG-Kokusai Co., Ltd.)

キーワード: インパルス電圧|積層型セラミックチップコンデンサ|等価回路|電圧依存|Impulse Voltage|Multi-Layer Ceramic Chip Capacitor|Equivalent circuit|Voltage dependence

要約(日本語): 電子機器の普及とともに積層セラミックチップコンデンサが大量生産されている。しかし，品質保証方法は確立されていない。本研究では，試験方法のアイデアとしてインパルス試験を提案する。その妥当性と試験機の等価回路の検討を行った。また，印加電圧の大きさに対して電圧波形，電流波形に変化が見られたため，それについても報告する。

要約(英語): Quality assurance test of Multi-Layer Ceramic Chip Capacitor has not been established. This paper makes a study on equivalent circuit of the test equipment and validity of an impulse test as test method. In addition, it is to report changes in the waveform due to the magnitude of the applied voltage.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,869 Kバイト