電流積分電荷法による絶縁劣化診断の提案

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI16058

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2016/03/04

タイトル(英語): New Diagnosis Method for Electrical Insulation Properties by DC Integration Charge

著者名: 高田 達雄(東京都市大学),森 琢磨(東京都市大学),岩田 知之(東京都市大学),藤富 寿之(東京都市大学),小野 泰貴(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Tatsuo Takada(Tokyo City University),Takuma Mori(Tokyo City University),Tomoya Iwata(Tokyo City University),Toshiyuki Fujitomi(Tokyo City University),Taiki Ono(Tokyo City University),Yasuhiro Miyake(Tokyo City University),Yasuhiro Tanaka(Tokyo City University)

キーワード: 絶縁劣化診断|電流積分電荷法|電線ケーブル|ガンマ線照射|Insulation diagnosis method|DC integration charge|Cable|gammma ray irradiation

要約(日本語): 絶縁劣化を評価する新たな高電圧側-直流電流積分電荷法(HV-DCIC)を提案している。直流絶縁劣化は電荷蓄積がその起因であるとの考えから、HV-DCI法は絶縁材料中に電極電荷注入および内部電荷発生を評価している。試作したHV-DCIC測定器の基礎実験データとして、同軸ケーブルの電流積分電荷Q(t)とケーブルの静電容量Csと印加電圧Vdcの積がQ(t)＝CsVdcと一致することから確認した。評価例として、ガンマ線照射および温度上昇ケーブルの電荷注入開始電界の低下および電荷蓄積量から絶縁劣化を評価した。

要約(英語): In order to evaluate the deterioration DC electrical insulation system, the new equipment of high voltage side DC integration charges has been developed. As first data of the deterioration DC electrical insulation, we try to test the equipment for the test sample Coaxial cable irradiated by gamma ray (51kGy) or the elevated temperature.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,356 Kバイト