光EFISHG法による有機EL素子の非破壊寿命診断

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI17023

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料研究会

発行日: 2017/02/22

タイトル(英語): Non-destructive diagnostics for organic light-emitting diodes by using electric-field-induced optical second-harmonic generation

著者名: 田口 大(東京工業大学),間中 孝彰(東京工業大学),岩本 光正(東京工業大学)

著者名(英語): Dai Taguchi(Tokyo Institute of Technology),Takaaki Manaka(Tokyo Institute of Technology),Mitsumasa Iwamoto(Tokyo Institute of Technology)

キーワード: 電界誘起光第２次高調波法|絶縁誘電体工学|非破壊測定|寿命診断|electric-field-induced optical second-harmonic generation|dielectrics|non-destructive method|diagnostics

要約(日本語): 有機EL素子のランプ効率は蛍光灯を越え、実用化が進められている。製品が長寿命化すると試験時間も長時間かかり、非破壊の寿命診断法が重要となる。電力ケーブル絶縁分野では微弱EL光を検出する手法が発展しているが、有機EL素子は自発光するので適用が難しい。本発表では、破壊前駆のEL光の原因であるキャリア挙動を直接評価することによる新しい手法について、我々の研究成果から紹介する。

要約(英語): Organic light emitting diodes (OLEDs) is utilized as a display and lighting devices. For life-time test of devices, non-destructive diagnostics is the key to provide high quality products. In this presentation, we report new diagnostics for OLEDs based on our recent result using electric-field-induced optical second-harmonic generation.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 1,027 Kバイト