純ニッケル電極のコンディショニング初期過程における局所汚損点と真空中の絶縁破壊箇所との関係

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI20038,EPP20016,HV20052

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料/【A】基礎・材料・共通部門 放電・プラズマ・パルスパワー/【B】電力・エネルギー部門 高電圧合同研究会

発行日: 2020/01/24

タイトル(英語): Relationship between local contaminated positions and breakdown point in vacuum under initial conditioning process of pure nickel electrode

著者名: 西山 真史(埼玉大学),山納 康(埼玉大学，筑波大学),糸賀 大剛(株式会社エム・ディ・インスツルメンツ),土肥 元達(株式会社エム・ディ・インスツルメンツ)

著者名(英語): Masashi Nishiyama(Saitama University),Yasushi Yamano(Saitama University, The University of Tsukuba),Hirotaka Itoga(MD INSTRUMENTS MFG. CO., LTD.),Doi Motomichi(MD INSTRUMENTS MFG. CO., LTD.)

キーワード: Ｘ線管|真空|純ニッケル電極|局所汚損点|絶縁破壊箇所|X-ray tube|Vacuum|Pure nickel electrode|Local contaminated position|Breakdown point

要約(日本語): Ｘ線管の集束電極において，難削材である純ニッケルが用いられているが，この電極の切削加工面が真空中耐電圧に強く影響を及ぼすことが問題となっている。本研究では，磁気研磨及び電界研磨を施した純ニッケル電極を用いて絶縁破壊試験を行い，電極表面状態と放電箇所との関係を調査した。その結果，局所汚損点に沿って放電が発生している場合が確認でき，局所汚損点端部が放電の弱点となることが考えられた。

要約(英語): For focusing electrode of X-ray tube, the surface protrusion and contamination caused by machining are a problem against obtaining the high voltage performance in vacuum. In this study, we carried out the vacuum breakdown test using a pure nickel electrode subjected to various temperatures, and we investigated the relationship between the local contamination points on the electrode surface and the breakdown points under the initial conditioning process.

原稿種別: 日本語

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