真空中におけるCTJからの電子放出による電流上昇に関する一考察

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI20039,EPP20017,HV20053

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料/【A】基礎・材料・共通部門 放電・プラズマ・パルスパワー/【B】電力・エネルギー部門 高電圧合同研究会

発行日: 2020/01/24

タイトル(英語): A study of current rise due to electron emission from CTJ in vacuum

著者名: 三浦 颯斗(埼玉大学),山納 康(埼玉大学、筑波大学),竪山 智博(東芝インフラシステムズ株式会社),浅利 直紀(東芝インフラシステムズ株式会社)

著者名(英語): Hayato Miura(Saitama University),yasushi Yamano(Saitama University, The University of Tsukuba),Chihiro Tateyama(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation),Naoki Asari(Toshiba Infrastructure Systems & Solutions Corporation)

キーワード: 絶縁体|電界電子放出|カソードトリプルジャンクション|帯電|前駆破壊現象|Insulator|Field emission|Cathode triple junction|Electrification|Prebreakdown phenomenon

要約(日本語): 一般的にCTJは電子放出の発生源となり高電圧機器の電気的弱点になると考えられている。過去の研究でそれを模擬した試料において印加電圧一定時における電界電子放出電流の上昇が観測された。本論文ではその原因として考えられる帯電の測定を行った。その結果、金属と絶縁体境界部の一部で正帯電が観測された。またCr2O3コーティングを施した試料については正帯電が抑制され、CTJにおける電界増幅を防ぐことが示唆された。

要約(英語): In general, CTJ is considered to be an electrical weakness of high voltage equipment. In the previous study, the field emission current increased in the sample simulating CTJ on the constant voltage. We measured the charge that is considered to be the cause, and positive charge was observed at near the CTJ.

原稿種別: 日本語

PDFファイルサイズ: 2,079 Kバイト