昇圧速度に依存する空間電荷の蓄積状態が直流絶縁破壊試験に与える影響

カテゴリ: 研究会(論文単位)

論文No: DEI20087,EWC20020

グループ名: 【A】基礎・材料・共通部門 誘電・絶縁材料/【B】電力・エネルギー部門 電線・ケ－ブル合同研究会

発行日: 2020/11/20

タイトル(英語): Effect of space charge accumulation state depending on voltage increase rate on DC dielectric breakdown test

著者名: 森川 滉基(東京都市大学),野村 彰吾(東京都市大学),三宅 弘晃(東京都市大学),田中 康寛(東京都市大学)

著者名(英語): Koki Morikawa(Tokyo city university),syougo nomura(Tokyo city university),hiroaki miyake(Tokyo city university),yasuhiro tanaka(Tokyo city university)

キーワード: パケット状電荷|昇圧速度|パルス静電応力法|絶縁破壊|直流|低密度ポリエチレン|packet-like charge|voltage increase rate|PEA method|breakdown|DC|LDPE

要約(日本語): ポリエチレン系材料の直流耐圧試験を実施する際に印加電圧の昇圧速度が絶縁破壊に与える影響を調査した。絶縁破壊には空間電荷の蓄積が大きく関与することが予想されるので、各昇圧速度で絶縁破壊に至るまでの空間電荷分布を、PEA法を用いて観測した。その結果昇圧速度が速いほど、多量の正パケット状電荷が試料内部に注入され、絶縁破壊にまでの時間が短くなる可能性が高いことが分かった。

要約(英語): We investigated the effect of a voltage increase rate on a DC breakdown withstand voltage test for polyethylene-based materials. It is found that the faster increase of the applied voltage made the time-to-breakdown shorter, and the large amount of positive packet-like charge injection was observed in such breakdown.

原稿種別: 日本語

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